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Test equipment

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argumento

Semiconductors; Test equipment

Um valor ou o endereço passado para uma função no momento da chamada; também conhecido como parâmetro real.

sincronização composta

Semiconductors; Test equipment

Um sinal de vídeo que contém os pulsos de sincronização horizontal e sincronização vertical pulsos igualação pulsos somente, com um nível de referência não-sinal.

vermelho-verde-azul (RGB)

Semiconductors; Test equipment

Um padrão de exibição de vídeo em que três sinais separados vermelho, verde e azul transmitem informações da imagem.

regras de design

Semiconductors; Test equipment

Admissíveis dimensões utilizadas no layout e design do circuito integrado. Tais regras são específicas para diferentes tipos de ICs.

testes funcionais

Semiconductors; Test equipment

Também conhecido como teste comportamental. Estratégia de teste de circuitos integrados que enfoca a funcionalidade esperada do circuito. Defeitos são alvo de uma maneira indireta. o teste ...

teste de continuidade/não

Semiconductors; Test equipment

Um teste com limites mínimos e máximos que pára no primeiro erro sem executar qualquer diagnóstico, caracterização ou medições reais além do limite de controle.

memória construída em self-test (MBIST)

Semiconductors; Test equipment

Abordagem BIST é específica para o teste da memória.

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