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Test equipment

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Test equipment

aproximação sucessiva

Semiconductors; Test equipment

Uma técnica usada em ADCs sequencialmente que compara uma série de valores progressivamente menores ponderada binário com uma entrada para produzir uma palavra digital de saída analógica.

de frame relay

Semiconductors; Test equipment

Uma tecnologia de transmissão de pacotes de dados em alta velocidade rajadas através de uma rede digital.

amostra e preensão (S/H)

Semiconductors; Test equipment

Um circuito que adquire uma tensão analógica e armazena temporariamente em um capacitor. Este circuito é também referido como um amplificador de amostra e retenção (SHA).

contador de eventos

Semiconductors; Test equipment

Um circuito que conta as ocorrências de uma determinada condição.

mapa da bolacha

Semiconductors; Test equipment

Um lote de dados viáveis em uma informação de aprovação/reprovação da bolacha apresentando, variação de parâmetro ou alguma outra característica.

teste funcional

Semiconductors; Test equipment

Um processo que aplica vetores padrão para um dispositivo e verifica a saída para determinar que o dispositivo está operando de acordo com sua tabela de verdade.

spooler

Semiconductors; Test equipment

Um processo que enfileira trabalhos para impressão em segundo plano (ou outras tarefas).

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